Калибровочные пластины

Подложки ISS (Impedance Standard Substrates) от Eoulu предназначены для высокоточной калибровки векторных анализаторов цепей (VNA) при измерениях непосредственно на пластине (on-wafer). Они обеспечивают стабильность, воспроизводимость и точность при измерении параметров ВЧ- и СВЧ-компонентов.