Есть вопросы?
Заполните форму и мы свяжемся с вами в ближашее время
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с Политикой конфиденциальности
Программное обеспечение futureC
р.
р.
futureC — это инновационная платформа для автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин, разработанная компанией Eoulu. Она объединяет все программируемые измерительные приборы, зондовые станции и системы управления тестами в единое интегрированное решение, обеспечивая стабильную, точную и высокоскоростную обработку данных.
futureC применяется в исследовательских лабораториях, производственных линиях и автоматизированных фабриках, поддерживая SECS/GEM стандарты для заводской автоматизации и бесшовную интеграцию с big data-платформой futureD.
futureC применяется в исследовательских лабораториях, производственных линиях и автоматизированных фабриках, поддерживая SECS/GEM стандарты для заводской автоматизации и бесшовную интеграцию с big data-платформой futureD.
Описание Eoulu futureC
Future C — это не просто программа, а полноценная система управления тестами (Test Operating System), созданная для интеллектуального тестирования и анализа параметров полупроводниковых устройств. Она обеспечивает быструю работу, точные измерения и автоматизацию всех этапов тестирования, делая его незаменимым инструментом для исследовательских центров, производственных линий и лабораторий.
Ключевые особенности и преимущества
1. Интеграция с различными измерительными приборами
Поддержка широкого спектра измерительных приборов:
2. Поддержка автоматизированного тестирования
3. Продвинутая визуализация и анализ данных
4. Тестирование в реальном времени и работа с big data
5. Автоматизация производств с поддержкой SECS/GEM
Области применения futureC
✔ Автоматизированное тестирование полупроводников — измерение характеристик чипов и транзисторов.
✔ Производственные линии — контроль качества полупроводниковых пластин на заводах.
✔ Радиочастотное тестирование (RF, MMW) — анализ ВЧ-параметров интегральных схем.
✔ Тестирование MEMS и оптоэлектронных устройств — проверка параметров оптических сенсоров и фотодиодов.
✔ Проверка надежности (Reliability Test) — определение долговечности и износостойкости компонентов.
✔ Высоковольтное тестирование (High Power Test) — тестирование мощных транзисторов и силовых модулей.
✔ Исследовательские лаборатории — разработка новых полупроводниковых технологий и их тестирование.
Future C — это не просто программа, а полноценная система управления тестами (Test Operating System), созданная для интеллектуального тестирования и анализа параметров полупроводниковых устройств. Она обеспечивает быструю работу, точные измерения и автоматизацию всех этапов тестирования, делая его незаменимым инструментом для исследовательских центров, производственных линий и лабораторий.
Ключевые особенности и преимущества
1. Интеграция с различными измерительными приборами
Поддержка широкого спектра измерительных приборов:
- Источники питания (Keysight, Keithley, Agilent)
- Осциллографы (Tektronix, Keysight, Rigol)
- Анализаторы сигналов (Anritsu, R&S, Keysight, Ceyear)
- Векторные анализаторы цепей (Keysight (Agilent), R&S, Ceyear)
- Полупроводниковые параметрические анализаторы (Keysight B1500, Keithley 4200A-SCS, Techmize TH521)
- Источники-измерители (Keysight B2900, Keithley 2400, Keithley 2600B, Techmize TH1991/TH1992)
- Коммутационные матрицы (Keysight B2201A, Keithley DAQ/Switch)
- Генераторы сигналов (Keysight (Agilent), R&S, Ceyear, NI)
- Анализаторы шумов и спектра (Keysight X-Series, Maury)
- Анализаторы оптических сигналов (Ceyear 6362D, Keysight LCA)
- Анализаторы импеданса (измерители LCR) (Keysight, Techmize)
2. Поддержка автоматизированного тестирования
- Драйверы оборудования работают отдельно от тестовых сценариев, что упрощает изменение настроек в лаборатории.
- Гибкое создание сценариев тестирования, настройка параметров измерений и автоматический экспорт результатов.
- Быстрая интеграция с тестовыми платформами, минимизация необходимости ручного программирования.
3. Продвинутая визуализация и анализ данных
- Отображение 2D, 3D, RF-графиков, осциллограмм, карт пластин.
- Поддержка до 4 096 бинов и карты цветовых градиентов.
- Автоматическая классификация результатов тестирования и выявление дефектов.
4. Тестирование в реальном времени и работа с big data
- Автоматическое сохранение данных в файлы CSV, TXT, JSON, BIN.
- Бесшовная интеграция с big data-платформой Future D.
- futureC обеспечивает постоянный контроль за производством с мгновенным отображением данных.
5. Автоматизация производств с поддержкой SECS/GEM
- Полная поддержка SECS/GEM (SEMI E5, E30, E37).
- Автоматизация взаимодействия с зондовыми станциями и анализаторами.
- Минимизация ошибок тестирования за счет стандартизации процессов.
Области применения futureC
✔ Автоматизированное тестирование полупроводников — измерение характеристик чипов и транзисторов.
✔ Производственные линии — контроль качества полупроводниковых пластин на заводах.
✔ Радиочастотное тестирование (RF, MMW) — анализ ВЧ-параметров интегральных схем.
✔ Тестирование MEMS и оптоэлектронных устройств — проверка параметров оптических сенсоров и фотодиодов.
✔ Проверка надежности (Reliability Test) — определение долговечности и износостойкости компонентов.
✔ Высоковольтное тестирование (High Power Test) — тестирование мощных транзисторов и силовых модулей.
✔ Исследовательские лаборатории — разработка новых полупроводниковых технологий и их тестирование.
Связь с устройствами
Программное обеспечение futureC позволяет разделять драйверы устройств и тестовые платформы, что обеспечивает гибкость в интеграции оборудования. Благодаря обширной библиотеке драйверов и модульному подходу к их разработке, система легко адаптируется под различные измерительные приборы и тестовые стенды.
Программное обеспечение futureC позволяет разделять драйверы устройств и тестовые платформы, что обеспечивает гибкость в интеграции оборудования. Благодаря обширной библиотеке драйверов и модульному подходу к их разработке, система легко адаптируется под различные измерительные приборы и тестовые стенды.
Сценарии тестирования
Софт автоматически определяет интегрированные устройства и соответствующие им параметры ввода/вывода, что значительно упрощает процесс конфигурации. Пользователи могут настраивать тестовые сценарии, задавая последовательность измерений и условия их выполнения.
Софт автоматически определяет интегрированные устройства и соответствующие им параметры ввода/вывода, что значительно упрощает процесс конфигурации. Пользователи могут настраивать тестовые сценарии, задавая последовательность измерений и условия их выполнения.
Биннинг результатов тестирования
futureC предоставляет возможность гибкой настройки условий биннинга, позволяя пользователям определять критерии приемки или отбраковки устройств на основе результатов измерений. Программа поддерживает до 4096 бинов, а также карту цветовых градиентов, что делает визуализацию данных удобной и наглядной.
futureC предоставляет возможность гибкой настройки условий биннинга, позволяя пользователям определять критерии приемки или отбраковки устройств на основе результатов измерений. Программа поддерживает до 4096 бинов, а также карту цветовых градиентов, что делает визуализацию данных удобной и наглядной.
Точные измерения и удобное управление
Программное обеспечение поддерживает форматирование и сохранение данных в удобных для анализа форматах. Пользователь может самостоятельно определять, какие результаты тестирования должны быть выведены и в каком порядке. Для удобства работы предусмотрена функция перетаскивания (Drag&Drop), упрощающая настройку и управление тестами.
Программное обеспечение поддерживает форматирование и сохранение данных в удобных для анализа форматах. Пользователь может самостоятельно определять, какие результаты тестирования должны быть выведены и в каком порядке. Для удобства работы предусмотрена функция перетаскивания (Drag&Drop), упрощающая настройку и управление тестами.
Различные режимы измерений
futureC поддерживает единичное тестирование в одной точке, а также многократные измерения в фиксированной позиции. Возможности программы включают тестирование на пластине (on-wafer) и анализ нескольких кристаллов одновременно. Для удобства инженеров система предлагает графическое отображение результатов, включая 2D, 3D, RF-кривые и осциллограммы, а также краткую статистику тестов с информацией о времени выполнения и проценте выхода годных устройств.
futureC поддерживает единичное тестирование в одной точке, а также многократные измерения в фиксированной позиции. Возможности программы включают тестирование на пластине (on-wafer) и анализ нескольких кристаллов одновременно. Для удобства инженеров система предлагает графическое отображение результатов, включая 2D, 3D, RF-кривые и осциллограммы, а также краткую статистику тестов с информацией о времени выполнения и проценте выхода годных устройств.
Редактор карт (MapEditor)
futureC включает усовершенствованный редактор карт пластин, обеспечивающий удобный и интуитивный интерфейс. Пользователь может создавать кастомные карты SubDie и точно позиционировать DUT (Device Under Test), что повышает точность измерений и удобство работы.
futureC включает усовершенствованный редактор карт пластин, обеспечивающий удобный и интуитивный интерфейс. Пользователь может создавать кастомные карты SubDie и точно позиционировать DUT (Device Under Test), что повышает точность измерений и удобство работы.
Система тестирования пластин
futureC поддерживает автоматическое и полуавтоматическое тестирование полупроводниковых пластин, позволяя задавать настраиваемые зоны тестирования. Визуализация результатов осуществляется при помощи гибкой цветовой шкалы, что позволяет легко интерпретировать данные.
futureC поддерживает автоматическое и полуавтоматическое тестирование полупроводниковых пластин, позволяя задавать настраиваемые зоны тестирования. Визуализация результатов осуществляется при помощи гибкой цветовой шкалы, что позволяет легко интерпретировать данные.
Офлайн-классификация данных
Программное обеспечение предоставляет возможность изменения условий биннинга на основе собранных данных и карт пластин. После внесения изменений данные автоматически обновляются на исходной карте, позволяя проводить повторный анализ без необходимости запуска новых тестов.
Программное обеспечение предоставляет возможность изменения условий биннинга на основе собранных данных и карт пластин. После внесения изменений данные автоматически обновляются на исходной карте, позволяя проводить повторный анализ без необходимости запуска новых тестов.
Компоненты протокола SECS/GEM
Программное обеспечение интегрируется с futureD, платформой управления большими объемами данных, обеспечивая бесшовную передачу данных между тестовой системой и аналитическими инструментами. futureC полностью соответствует международным стандартам SEMI E5-0600 (SECS-II), SEMI E30 (GEM) и SEMI E37 (HSMS), что делает его совместимым с современными автоматизированными производственными системами.
Программное обеспечение интегрируется с futureD, платформой управления большими объемами данных, обеспечивая бесшовную передачу данных между тестовой системой и аналитическими инструментами. futureC полностью соответствует международным стандартам SEMI E5-0600 (SECS-II), SEMI E30 (GEM) и SEMI E37 (HSMS), что делает его совместимым с современными автоматизированными производственными системами.
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Поддерживаемые приборы | Keysight, Keithley, Tektronix, NI, Anritsu, R&S, Cascade, Newport и др. |
| Совместимые интерфейсы | GPIB, USB, Ethernet, RS232 |
| Форматы данных | CSV, TXT, JSON, BIN, поддержка экспорта в Future D |
| Автоматизация тестирования | Поддержка SECS/GEM (SEMI E5, E30, E37), гибкие тестовые сценарии |
| Графическое отображение | 2D, 3D, RF-графики, осциллограммы, карта пластины |
| Время обработки 1000 строк | 0,003 с |
| DC Scan (K2400, AutoRange) | 3,9 с на 50 точек |
| Поддерживаемые платформы | Windows, Linux |
| Операционные системы | Windows 10/11, Linux (Ubuntu, RedHat) |
| Рекомендованная конфигурация | Intel i7/i9, 16GB RAM, 500GB SSD, дисплей 1920×1080 |
| Минимальная конфигурация | Intel i5, 8GB RAM, 256GB SSD |
| Поддержка SECS/GEM | Полная поддержка, соответствие SEMI E5 (SECS-II), SEMI E30 (GEM), SEMI E37 (HSMS) |
| Типы тестирования | DC, RF, MMW, параметрическое тестирование, анализ отказов |
| Поддержка многозадачности | Да, поддержка параллельных тестов |
| Дополнительные функции | Классификация результатов, импорт/экспорт сценариев тестирования, автоматический контроль отказов |
| Язык программирования для автоматизации | Python, LabVIEW, MATLAB, C++ |
Future C
Запрос цены
Заполните форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время, чтобы предоставить актуальную цену, консультацию по характеристикам и условиям поставки
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с Политикой конфиденциальности
Смотрите также