Есть вопросы?
Заполните форму и мы свяжемся с вами в ближашее время
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с Политикой конфиденциальности
Программное обеспечение futureD
р.
р.
futureD — система обработки большими объемами данных, разработанная компанией Eoulu для анализа и управления массивами данных, полученными при тестировании полупроводниковых пластин. Система автоматизирует сбор, обработку, анализ и визуализацию результатов тестирования, обеспечивая высокую точность, скорость расчетов и гибкость в работе с большими объемами информации.
futureD значительно упрощает процессы управления тестовыми данными, предоставляя пользователям возможность быстро анализировать архивные параметры, сравнивать данные в реальном времени, визуализировать кривые измерений и проводить детальный анализ качества продукции.
futureD значительно упрощает процессы управления тестовыми данными, предоставляя пользователям возможность быстро анализировать архивные параметры, сравнивать данные в реальном времени, визуализировать кривые измерений и проводить детальный анализ качества продукции.
Описание Eoulu Future D
Система futureD разработана для автоматизированного сбора, хранения, анализа и управления данными, поступающими с тестового оборудования, включая зондовые станции, параметрические анализаторы, осциллографы, генераторы сигналов и анализаторы спектра. Она предоставляет инструменты многомерной индексации, автоматического обновления баз данных и инженерного анализа, что делает процесс обработки данных быстрым и удобным.
Одним из ключевых преимуществ futureD является уникальная архитектура обработки данных, разработанная специалистами в области математики, физики и машинного обучения. Это позволяет ускорять процесс расчетов, минимизируя нагрузку на вычислительные мощности и обеспечивая оперативный доступ к многомерным массивам информации.
Система предназначена для компаний и исследовательских центров, работающих в области полупроводниковых технологий, включая разработчиков микросхем, производителей полупроводниковых устройств, инженеров-технологов и специалистов по контролю качества.
Ключевые особенности и преимущества
Области применения futureD
✔ Полупроводниковая промышленность — для анализа данных по тестированию чипов и пластин.
✔ Исследовательские лаборатории — для глубокой аналитики и визуализации результатов тестирования.
✔ Автоматизированные производственные линии — для онлайн-мониторинга качества выпускаемой продукции.
✔ Компании, занимающиеся надежностным тестированием (Reliability Test) — для проверки долговечности полупроводниковых устройств.
✔ Оптоэлектроника и MEMS — для измерений параметров сенсоров, фотодиодов и других сложных компонентов.
Система futureD разработана для автоматизированного сбора, хранения, анализа и управления данными, поступающими с тестового оборудования, включая зондовые станции, параметрические анализаторы, осциллографы, генераторы сигналов и анализаторы спектра. Она предоставляет инструменты многомерной индексации, автоматического обновления баз данных и инженерного анализа, что делает процесс обработки данных быстрым и удобным.
Одним из ключевых преимуществ futureD является уникальная архитектура обработки данных, разработанная специалистами в области математики, физики и машинного обучения. Это позволяет ускорять процесс расчетов, минимизируя нагрузку на вычислительные мощности и обеспечивая оперативный доступ к многомерным массивам информации.
Система предназначена для компаний и исследовательских центров, работающих в области полупроводниковых технологий, включая разработчиков микросхем, производителей полупроводниковых устройств, инженеров-технологов и специалистов по контролю качества.
Ключевые особенности и преимущества
- Многомерная быстрая индексация данных: Обеспечивает мгновенный доступ к архивным данным, позволяя быстро находить и анализировать необходимую информацию.
- Автоматическая загрузка и обновление баз данных: Снижает риск человеческого фактора и обеспечивает актуальность данных без необходимости ручного вмешательства.
- Инженерный анализ: Предоставляет мощные инструменты для детального анализа данных, включая наложение кривых, построение диаграмм размаха, гистограмм и расчет показателей CPK. Это позволяет глубже понять поведение тестируемых устройств и выявить возможные расхождения.
- Графическое представление на уровне пластин: Интерактивные векторные карты пластин позволяют визуализировать данные на уровне отдельных чипов, предоставляя возможность детального анализа каждого элемента.
- Пользовательские вычисления: Более 1000 встроенных функций позволяют проводить сложные расчеты и создавать различные графические представления данных, адаптированные под специфические потребности пользователя.
- Быстрая генерация отчетов: Система обеспечивает высокую скорость расчетов, позволяя получать полные отчеты в течение минуты, что значительно ускоряет процесс принятия решений.
- Совместимость с futureC: Обеспечивает бесшовную интеграцию с тестовым программным обеспечением Future C, что упрощает обмен данными и повышает общую эффективность работы.
- Поддержка стандартов SECS/GEM: Соответствие стандартам SEMI E5−0600 (SECS-II), SEMI E30 (GEM) и SEMI E37 (HSMS) обеспечивает легкую интеграцию в существующие производственные процессы и системы автоматизации.
Области применения futureD
✔ Полупроводниковая промышленность — для анализа данных по тестированию чипов и пластин.
✔ Исследовательские лаборатории — для глубокой аналитики и визуализации результатов тестирования.
✔ Автоматизированные производственные линии — для онлайн-мониторинга качества выпускаемой продукции.
✔ Компании, занимающиеся надежностным тестированием (Reliability Test) — для проверки долговечности полупроводниковых устройств.
✔ Оптоэлектроника и MEMS — для измерений параметров сенсоров, фотодиодов и других сложных компонентов.
Уровень кассеты (Cassette-level)
Инновационная система графического хранения данных от Eoulu с визуальным отображением расположения пластин в кассетах. Это позволяет инженерам быстро идентифицировать и управлять отдельными пластинами в рамках общей партии, улучшая организацию и ускоряя доступ к необходимым данным.
Инновационная система графического хранения данных от Eoulu с визуальным отображением расположения пластин в кассетах. Это позволяет инженерам быстро идентифицировать и управлять отдельными пластинами в рамках общей партии, улучшая организацию и ускоряя доступ к необходимым данным.
Уровень пластины (Wafer-level)
Веб-векторная карта, предоставляет детальный макет всей пластины. Инженеры могут интерактивно выбирать отдельные чипы (кристаллы) для просмотра их индивидуальных данных и соответствующих кривых. Это значительно упрощает процесс диагностики и анализа характеристик каждого чипа, позволяя быстро выявлять и устранять возможные дефекты.
Веб-векторная карта, предоставляет детальный макет всей пластины. Инженеры могут интерактивно выбирать отдельные чипы (кристаллы) для просмотра их индивидуальных данных и соответствующих кривых. Это значительно упрощает процесс диагностики и анализа характеристик каждого чипа, позволяя быстро выявлять и устранять возможные дефекты.
Уровень кристалла (Die-level)
Макет на уровне отдельного чипа обеспечивает быструю обработку исходных файлов данных, гарантируя упорядоченное представление всей информации. Это позволяет детально анализировать параметры каждого кристалла, обеспечивая высокую точность и надежность тестирования.
Макет на уровне отдельного чипа обеспечивает быструю обработку исходных файлов данных, гарантируя упорядоченное представление всей информации. Это позволяет детально анализировать параметры каждого кристалла, обеспечивая высокую точность и надежность тестирования.
Диаграмма размаха (Box-plot)
Статистический график, отображающий распределение набора данных через квартильные значения, подчеркивая медиану, верхний и нижний квартиль, а также возможные выбросы.
Статистический график, отображающий распределение набора данных через квартильные значения, подчеркивая медиану, верхний и нижний квартиль, а также возможные выбросы.
Выход годных изделий (Yield)
Процент устройств на пластине, соответствующих необходимым спецификациям после производственного процесса.
Процент устройств на пластине, соответствующих необходимым спецификациям после производственного процесса.
Кумулятивный выход годных изделий
Общий выход, рассчитываемый путем умножения выходов отдельных этапов процесса, предоставляя представление об общей эффективности производственного процесса.
Общий выход, рассчитываемый путем умножения выходов отдельных этапов процесса, предоставляя представление об общей эффективности производственного процесса.
Обратный выход годных изделий
Метрика анализа, сосредоточенная на уровне отказов, представляющая процент устройств, не соответствующих спецификациям.
Метрика анализа, сосредоточенная на уровне отказов, представляющая процент устройств, не соответствующих спецификациям.
Гистограмма
Гистограмма во futureD представляет собой графическое отображение распределения данных, позволяющее инженерам визуально оценивать вариации параметров тестируемых полупроводниковых устройств. С ее помощью можно выявлять закономерности, такие как смещение среднего значения, разброс данных и наличие выбросов, что способствует более глубокому пониманию характеристик процесса и принятию обоснованных решений по его оптимизации.
Гистограмма во futureD представляет собой графическое отображение распределения данных, позволяющее инженерам визуально оценивать вариации параметров тестируемых полупроводниковых устройств. С ее помощью можно выявлять закономерности, такие как смещение среднего значения, разброс данных и наличие выбросов, что способствует более глубокому пониманию характеристик процесса и принятию обоснованных решений по его оптимизации.
Индекс способности процесса
Индекс CPK вявляется статистическим показателем, отражающим способность производственного процесса выпускать продукцию, соответствующую установленным нормам. Высокое значение CPK указывает на то, что процесс стабилен и продукция находится в пределах допустимых отклонений, тогда как низкое значение сигнализирует о необходимости корректировки процесса для улучшения качества продукции.
Индекс CPK вявляется статистическим показателем, отражающим способность производственного процесса выпускать продукцию, соответствующую установленным нормам. Высокое значение CPK указывает на то, что процесс стабилен и продукция находится в пределах допустимых отклонений, тогда как низкое значение сигнализирует о необходимости корректировки процесса для улучшения качества продукции.
Отчет / Печать
В программном обеспечении futureD предусмотрена функция, которая автоматически преобразует все данные в изображения и сохраняет их в формате PPT (презентации PowerPoint). Это позволяет пользователям быстро создавать презентации с визуальным представлением данных без необходимости вручную переносить графики и диаграммы в слайды. Такая автоматизация значительно экономит время и обеспечивает удобство при подготовке отчетов и презентаций.
В программном обеспечении futureD предусмотрена функция, которая автоматически преобразует все данные в изображения и сохраняет их в формате PPT (презентации PowerPoint). Это позволяет пользователям быстро создавать презентации с визуальным представлением данных без необходимости вручную переносить графики и диаграммы в слайды. Такая автоматизация значительно экономит время и обеспечивает удобство при подготовке отчетов и презентаций.
Пользовательские вычисления
Возможность выполнять индивидуальные вычисления с использованием библиотеки из более чем 1000 функций, позволяя инженерам выбирать и применять конкретные анализы по мере необходимости. Все вычисления оптимизированы для выполнения в течение 10 секунд, а полная печать отчетов возможна в течение 60 секунд, что повышает эффективность обработки данных и документации.
Возможность выполнять индивидуальные вычисления с использованием библиотеки из более чем 1000 функций, позволяя инженерам выбирать и применять конкретные анализы по мере необходимости. Все вычисления оптимизированы для выполнения в течение 10 секунд, а полная печать отчетов возможна в течение 60 секунд, что повышает эффективность обработки данных и документации.
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Максимальная расчетная мощность за клик | ≤ 100 000 чипов; 3 параметра с одиночным значением |
| Стандартная расчетная мощность за клик | ≤ 20 000 чипов; 50 параметров с одиночным значением |
| Максимальное количество отображаемых графиков | Отображение результатов тестирования 10 000 чипов без зависаний системы |
| Типичное время расчета/параметра/устройства | < 1 секунда для всех элементов |
| Наложение кривых | Поддержка 10 групп кривых с возможностью расширения |
| Графическое отображение карты пластины | Четкое отображение до 120 кристаллов |
| Поддерживаемые типы графиков | Логарифмические, полярные, X-Y координаты, Smithchart, 3D-сеточные системы координат |
| Поддержка SECS/GEM | SEMI E5-0600 (SECS-II), SEMI E30 (GEM), SEMI E37 (HSMS) |
| Рекомендуемая конфигурация ПК | Windows 10/11, Intel Core i3 Quad-core 3.6GHz, 8 GB ОЗУ, дискретная видеокарта 1G, жесткий диск 500GB, дисплей 1920×1080 |
| Рекомендуемая конфигурация мобильного устройства | iOS или Android, смартфоны ведущих брендов после 2018 года, > 8 GB ОЗУ, > 64 GB памяти, браузер Google Chrome 80.0.3987.119 и выше |
| Поддерживаемые бренды измерительного оборудования | Keysight, Keithley, Tektronix, NI, Anritsu, R&S, Advantest, Cascade Microtech |
| Поддерживаемые устройства | Параметрические анализаторы, источники питания, осциллографы, генераторы сигналов, анализаторы спектра, зондовые станции, термоциклеры |
Future D
Запрос цены
Заполните форму, и мы свяжемся с вами в ближайшее время, чтобы предоставить актуальную цену, консультацию по характеристикам и условиям поставки
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с Политикой конфиденциальности
Смотрите также