Квадратная проб-карта

р.

Квадратная проб-карта имеет специфическую геометрию и конструкцию для тестирования устройств с необычным расположением контактных площадок или для применения в специализированных тестовых системах

Запросить цену

Описание

Описание

Эта проб-карта предназначена для тестирования нестандартных полупроводниковых устройств, требующих особого расположения контактных точек. Например, чипов с высокой плотностью контактов или гибридных интегральных схем.
Карта выполнена в усиленном корпусе, что снижает вероятность повреждений во время тестирования. Она также поддерживает различные схемы подключения контактов (GSG, GS, SG, RF, DC).

Ключевые особенности

✔ Гибкость в конфигурации: количество и расположение контактов настраиваются под заказ.
✔ Поддержка RF и DC тестов: работа с высокочастотными и низкочастотными сигналами.
✔ Прочная конструкция: уменьшает риск повреждений при тестировании.
✔ Подходит для сложных тестовых систем и специфических устройств.

Испытания в широком диапазоне температур -60 ~ 300 ℃

ВЧ иглы размером 30 мкм x 30 мкм

Характеристики Многоконтактная ВЧ проб-карта Eoulu

Параметр	Значение
Форма	Квадратная
Количество контактов	Индивидуально под заказ
Импеданс	50 Ом (RF), Высокоомный (DC)
Материал контактов	Позолоченный никелевый сплав
Температурный диапазон	-60°C ~ +300°C

Смотрите также